蛍光X線膜厚装置取扱開始しました。(2014年3月~)

信頼と実績の安定した蛍光X線膜厚計 XDL XDLM XDAL/ XDV-SDD

 

[蛍光X線膜厚装置のアプリケーション]

•Zn、Ni、Cr、Cu、Ag、Au、Snなどの単層被膜。
•Feを下地とするSnPb、ZnNiおよびNiPのような二元合金被膜。
•Niを下地とするAuCdCuのような三元合金被膜。
•Cuを下地とするAu/Ni、Cuを下地とするCr/Ni、Niを下地とするAu/Ag、黄銅を下地とするSn/Cuなどのような複層被膜。
•プラスチックまたは鉄を下地とする、1層がCr/Ni/Cuのような合金層である複層被膜。
•24層までの多層被膜(WinFTM®V.6使用時のみ)。
•構成元素が4種類(またはWinFTM®V.6使用時には24種類)までの金属合金。
•めっき溶液中の金属イオン濃度の分析


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