| 蛍光X線(EDX)分析装置 | やさしいFT-IRの原理(4)━ ランベルト・ベールの法則と吸光度スペクトル[ランベルト・ベールの法則] 前項でFTIRにおける測定では「吸光度」という単位を主に用いると述べました。 透過率 = I' / I 吸光度 = - log T (logは常用対数) 本項ではその理由を説明して参ります。 IRのスペクトルでは各波長成分における透過率または吸光度が連続的に表されるす(下図)ことはすでに述べました。これらを連続した波長成分のことを「波長域」または波長の逆数である「波数域」と呼びます(さらに私たちは連続した波数域に特に吸光度スペクトルが現れることを俗に「ピークが立つ」と呼んでいます)。ピークが立つ波長成分は人間の指紋と同じく化合物によって固有のものとなります。 [透過率スペクトル] [吸光度スペクトル]  ご覧のように透過率スペクトルと吸光度スペクトルは上下逆さまな形になっています。 横軸は波数でありピークが立つ場所は化合物固有ですので定性するだけであれば透過率スペクトルを使ってもよさそうに思えてきます。しかしFT-IRの世界ではもっぱら吸光度スペクトルが用いられます。何故でしょうか? それは吸光度と濃度の関係は比例関係があるという「ランベルト・ベールの法則」に基づくことによりスペクトルに直線性が与えられデータの理解が容易になるからです。 A = -log T =εC・L 吸光度の単位としては英単語Absobance Unitの頭文字A.U.が使われます。 ε= 物質固有の吸光係数 C = 濃度 L = セル(光路)長 例えばセル長10cm、濃度が100ppmの時の吸光度(ある波数におけるピーク高さ)が0.05である化合物を次に測定した時のピークの高さが0.01になったとします。 ベールの法則により同じ装置で測っていればセル長は固定されておりεLは定数と見なせますので濃度と吸光度は比例関係にありますから、この時の濃度は20ppmであることがわかります。これが透過率表記だとどうなるでしょう? -log T=εCL → Tは10の (-εCL)乗なので濃度が3倍だとすると透過率は元の10の3乗分の1、10倍だと元の10の10乗分の1になるとは理屈ではわかってもイマイチピンと来ないのではないでしょうか? [リファレンススペクトル] さて、FT-IRによる分析ではレファレンス(参照)スペクトルとサンプルスペクトルとのピーク高さの比例関係を見ることで定量しています。 レファレンススペクトルとは濃度・セル長と吸光度の関係がわかっているスペクトルのことです。 FT-IR分析装置のメーカーでは基本的にリファレンススペクトルのデータライブラリも提供するわけですが、 このライブラリが豊富なほどそのFT-IR装置の使い勝手は増すことになります。MIDAC CORPORATIONでは FT-IRではPFC(パーフルオロカーボン)ガスやVOC(揮発性有機化合物)ガスを中心に豊富なリファレンススペクトルを 用意しています。 [各成分の和となって現れる吸光度スペクトル]  吸光度スペクトルですが、サンプル実測では上図のように混合成分のそれぞれの吸収ピークが重なった吸光度スペクトルが得られます。FT-IRでは事前に登録したレファレンススペクトルを合成したスペクトルとサンプルスペクトルを比較することで定性・定量を行うため登録しなかった成分については濃度計算しません。しかし実際に測定したスペクトルが保存されていればる後で未登録成分を登録しなおしてから再解析にかければちゃんと登録し忘れた成分についても濃度が得られます。この、後から再解析できるというのもFT-IRの利点の一つです。MIDAC FT-IRのソフトウェアはこの再解析機能が充実しています。FT-IRによるガス分析をお考えの方はぜひMIDAC製品をご検討ください。
※他にも多数あります。FT-IR分析の導入のお客様はお問合わせください。 FT-IR関連よみもの
| ||||||||||||||||||||||
携帯型蛍光X線分析装置 SKYRAY Genius 3000 XRF 2011年11月新発売! EDX Pocket IIIの後継機。 軽元素も測定できるように なりました。 据付型蛍光X線分析装置  SKYRAY 1800B | |||||||||||||||||||||||
| FTIRガス分析装置 | |||||||||||||||||||||||
|
抽出法による排ガス測定 MIDAC Iシリーズ オープンパスガス測定 MIDAC AMシリーズ | |||||||||||||||||||||||
| FTIR用前処理装置 | |||||||||||||||||||||||
| ﾏｲｸﾛｻﾝﾌﾟﾘﾝｸﾞﾏｼﾝ マイクロサポート Axis Pro FT-IR用熱分解ﾊﾟｲﾛﾌﾟﾛｰﾌﾞ  CDS ブリルセル | |||||||||||||||||||||||
| ガイガー・ミュラー管 放射線測定器 | |||||||||||||||||||||||
MiniTrace CSDF 検出できる線種:α・β・γ・X線 表示単位: Sv,CPS,Bq,Bq/cm2,Bq/L キャンペーン価格 240,000円(消費税、送料別) | |||||||||||||||||||||||
| 熱分解・加熱脱離装置 | |||||||||||||||||||||||
低価格熱分解装置 CDS モデル4000 キャンペーン価格 190万円(消費税、据付費用別) 高圧・触媒リアクター 加熱脱離ﾁｭｰﾌﾟ付熱分解装置  CDS モデル5200HP-R パージアンドトラップ装置  CDS8000 & ｵｰﾄｻﾝﾌﾟﾗｰ | |||||||||||||||||||||||
| TDLAS近赤外ﾚｰｻﾞｰ吸収 ガス分析装置 | |||||||||||||||||||||||
野外でも簡単測定 Boreal Laser GasFinder2 | |||||||||||||||||||||||
| ﾃｰﾌﾟ式ガス分析装置 | |||||||||||||||||||||||
プロセスガスも分析可 C.I. ﾃｰﾌﾟ式ガス分析装置 | |||||||||||||||||||||||
| ケイディーアイ株式会社 | [HOME] [サイトマップ] |
〒105-0014 東京都港区芝3-3-14 ニットクビル1F TEL 03-6400-4081(代表) / FAX 03-6400-4082 Copyright (C) 2005-2011 KDI Co. Ltd. All Rights Reserved. |